Le stress vécu à la petite enfance augmente les risques de dépression

Une équipe de chercheurs new-yorkais et montréalais ont fait une découverte qui leur a permis, pour la première fois,  d’identifier le mécanisme expliquant pourquoi les traumatismes et le stress en bas âge augmentent le risque de dépression. À l'origine de ce mécanisme, une molécule, appelée Otx2, dont le fonctionnement serait altéré par un stress survenu tôt dans la vie de l'enfant.

En effet, le stress qui survient à la petite enfance, période cruciale du développement du cerveau, notamment pour le développement émotionnel, augmente le risque de dépression plus tard dans la vie. Grâce à cette étude, qui vient de paraître dans la revue Science, il sera plus facile de justifier la nécessité d’un programme de dépistage qui pourrait enrayer les dommages au cerveau avant que n’apparaisse la dépression. 

Rosemary Bagot, psychologue de l'Université McGill, a mené ces travaux avec Michael Meaney, autre chercheur de McGill, ainsi qu’une sommité du stress durant la petite enfance, Eric Nestler, de l'École de médecine Mount Sinai à New York, auteur principal de l'étude.

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Source : International Journal of Epidemiology